统计过程控制SPC培训

一、统计过程控制概述

1.持续可信的品质——CPK

2.统计过程控制的起源与发展

3.SPC基本概念

4.过程控制原理

5.SPC的工具——控制图

6.SPC的目标

7.SPC的应用及收益

二、SPC统计基础

1.现代质量管理学的统计观点

2.概率与随机现象

3.计量型数据和计数型数据

4.总体与样本

5.统计量：均值、方差、标准差

6.正态分布——品管核心统计理论

7.用正态分布展示和评价过程

8.过程的位置和分布（离散度）

9.中心极限定理

10.3σ质量与6σ质量

11.六西格玛（6σ）定义

12.PPM-西格玛Z数-CPK质量度量换算

三、变异知识

1.变异与波动

2.质量波动的因素分类--- 5M1E

3.特殊原因和共同原因

4.统计控制状态

5.局部问题和系统改进

6.波动、过程控制和过程能力

四、控制图原理

1.控制图样式

2.两类错误

3.休哈特“3σ原则”

4.分析用控制图和监控用控制图

5.常规控制图的分类

6.统计过程控制原则

7.控制图 8条判异准则

8.如何选择控制图

五、控制图数据采集

1.为什么要收集数据

2.数据收集计划

3.如何确定控制项目--关键质量特性

4.控制图数据规模

5.采集控制图数据的步骤

6.修哈特的“合理子组原则”

7.数据的分层问题

8.控制图数据的时间序列特性

9.直方图数据不能做控制图

六、计量型控制图

1.Xbar-R图（均值-极差）

2.Xbar-s 图（均值-标准差）

3.中位数- R图（中位数-极差）

4.X－MR 图（单值-移动极差）

七、计数型控制图

1.P图（不合格品率）

2.np图（不合格品数）

3.c图（缺陷数）

4.u图（单位缺陷数）

八、过程能力研究

1.过程能力研究的目的

2.过程能力研究的步骤

3.过程能力的概念：过程能力指数CP和CPK 过程性能指数PP和PPK

4.过程短期能力研究与过程长期能力研究

5.过程能力改进:减少普通原因持续改进过程潜力减少特殊原因持续改进过程表现

6.能力指数计算流程

7.能力指数计算实例

8.过程能力指数研究时机

9.过程能力和过程性能指数计算前提条件

10.设备能力指数Cmk模型建立及计算

11.设备能力研究范围

12.计算Cmk流程

13.Minitab计算Cmk

九、控制图使用及策略

1.控制图运用流程

2.控制图界限的确定与发布

3.控制图的记录

4.对异常点的处置

5.不要混淆控制界限和规格界限

6.过程中心偏离目标的调整策略

7.控制界限的重新计算问题

8.用控制图确认改善效果

十、其他控制图介绍与应用

1.EWMA控制图

2.累积数控制图

3.工序预控制图

十一、MINITAB应用

1.Minitab界面及操作

2.控制图执行路径

3.控制图数据输入

4.控制图生成方法

5.过程能力分析

6.用Z图确认改善效果

7.控制图打印制作

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